Beschreibung
Zur Untersuchung von kleinsten Strukturen an Oberflächen hat sich die Rasterkraftmikroskopie als eine der wichtigsten Methoden etabliert. Neben Informationen über die Topographie lassen sich mit ihrer Hilfe auch Aussagen über Energiedissipationsprozesse an der Oberfläche machen. In dieser Arbeit werden einerseits temperaturabhängige Dissipationsmessungen vorgestellt. Andererseits wird das Material Graphen hinsichtlich seiner elektronischen Transporteigenschaften mittels der Wirbelstrommikroskopie untersucht. Untermauert werden die Ergebnisse durch theoretische Überlegungen und Simulationen.
