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Herstellung und optische Charakterisierung von Lanthanoid-dotierten (SiC)1‑x(AlN)x‑Schichten
Erlenbach, Oliver
ISBN: 978-3-86844-316-5
36,00 €
inkl. 19 % MwSt. zzgl. Versandkosten
ISBN-Nummer: 978-3-86844-316-5
Fachbereiche: Dissertation, Elektro-/ Informationstechnik, Publikationen, Universität Erlangen-Nürnberg - Lehrstuhl für Werkstoffe der Elektronik- und Energietechnik
Zusätzliche Informationen
Gewicht | 195 kg |
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Autor | Erlenbach, Oliver |
zur Person | |
Schlagworte, Tags | Seltene Erden, Siliziumkarbid, luminiumnitrid, Bandgap-Engineering |
Auflage | |
Auflage Ergänzung | |
Bandnummer | |
Erscheinungsdatum | 2011-03-28 00:00:00 |
Abmessungen / Format | |
Seiten | 142 |
Zielgruppe | |
Rezension | |
Vorwort | |
Internetressourcen |